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红外焦平面探测器非均匀性校正的方法

[2021/5/28]

  红外焦平面阵列探测器对入射的红外能力进行积分,然后产生视频图像,经过调解后被提供给视频显示器,以供人观察。焦平面阵列每个像元的输出是一种模拟信号,它是与积分时间内入射在该元件上的红外能力成正比的。但是由于制造工艺和使用环境的影响,即使对温度均匀的背景,焦平面背景中所有像元产生的输出信号也是不一致的,即红外焦平面阵列器件的非均匀性。为了满足成像系统的使用要求,需要对红外焦平面阵列探测器进行非均匀性校正。

  从生产工艺而言,单纯从提高焦平面阵列质量的角度来降低其非均匀性,不仅困难而且造价昂贵。因此,红外探测器厂家通过校正算法减小非均匀性对红外焦平面阵列成像质量的影响,提高成像制冷,不仅是必须的,同时具有很高的经济价值和应用价值。

  目前,对红外图像质量的改善,一般是根据红外焦平面阵列对于温度响应的不一致性,采用非均匀性校正的方法,提高红外图像的质量。主要有两类校正方法:

  基于红外参考辐射源的非均匀性校正算法和基于场景的自适应校正方法。

  在实际应用中,普遍采用的是基于红外参考辐射源定标的校正方法。但是,采用参考辐射源定标的校正方法校正的红外图像,因红外焦平面阵列器件由于长时间的工作,受到时间、环境等因素的影响,红外图像质量逐渐下降,出现类似细胞状和块状的斑纹,影响力红外图像的质量。所以,需要在基于参考辐射源定标的校正方法的基础上,对于红外图像的质量进行改善。

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