为了准确监测红外探测器低频噪声的变化，构建的噪声测试系统由输入回路、低噪声前置放大器和噪声采集与分析系统等几个部分构成，系统原理如下图所示：
输入回路为红外探测器提供偏置，并通过合适的激励激发探测器的低频噪声，便于后续模块对该噪声进行分析处理。
红外探测器内部的主片与补片组成电阻桥路的结构，为了区分是主片还是补片（或两者同时）引起探测器噪声的变化，使用了2个替代电阻，替代电阻使用噪声性能较好的线绕电阻器，且电阻值与主片（补片）的阻值相等，如上图所示。外部施加的直流偏置电压使探测器保持在正常工作状态，同时也用来激发探测器内部的潜在噪声源，为了避免电压源的噪声对测试精度的影响，采用两种设计方案：短时间测量时，选用本底噪声非常低的镍氢电池组供电，长时间监测时，通过精心设计的低噪声线性串联稳压电源供电。
为了准确定位探测器的噪声源，设计了4种测试状态，红外探测器厂家介绍到：
1、热噪声测试，图中的偏置电源输入端全部接地，主片与补片同时接入测试回路，测试探测器在零偏压下的热噪声。
2、总噪声测试，偏置电源输入端接入合适的偏置电压，主片与补片同时接入测试回路，测试红外探测器特定偏置下的总噪声。
3、主片噪声测试，偏置电源输入端接入合适的偏置电压，主片接入测试回路，补片用替代电阻代替，测试主片在特定偏置下的噪声特性。
4、补片噪声，偏置电源输入端接入合适的偏置电压，补片接入测试回路，主片用替代电阻代替，测试补片在特定偏置下的噪声特性。
采取了一系列的措施来避免输入回路中的干扰对测试精度的影响。测量过程中，将红外探测器的聚光锗窗口遮挡，以避免环境光线变化带来的干扰；采用多层屏蔽的方式，使用屏蔽电缆连接输入回F路与后级的低噪声前置的放大器，避免外界电磁干扰的影响。最后利用线绕电阻的热噪声为测试系统进行校准。